簡要描述:高(gao)溫(wen)真(zhen)空(kong)探針臺KT-Z1604TZ,可單選高(gao)溫(wen)或低溫(wen)等相應組件,溫(wen)度可達到400℃。以便測量分析溫(wen)度變化時芯(xin)片性能(neng)參數(shu)的(de)變化。腔體內被測芯(xin)片在(zai)真(zhen)空(kong)環境中有效避(bi)免易受氧(yang)化半導體器件接觸空(kong)氣所帶來的(de)測試結(jie)果誤差(cha)。
品牌 | 鄭科探 |
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高溫真空探針臺KT-Z1604TZ
真空探針(zhen)臺可實(shi)現高(gao)真空環(huan)境下的高(gao)溫及(ji)低(di)溫電學性能(neng)測量,真空腔一體成型(xing),具有設(she)計合理,真空度穩(wen)定(ding),溫(wen)控精度及(ji)機(ji)械精度高等(deng)特點;根(gen)據測試溫(wen)度范圍不同,可單(dan)選(xuan)高溫(wen)或低溫(wen)等(deng)相(xiang)應組(zu)件,溫(wen)度可達到400℃,低(di)溫部分(fen)采用液(ye)氮或液(ye)氦冷(leng)卻組件,溫度可低(di)至-196℃,;真空系統可選(xuan)機械(xie)泵或分子泵系統,真空度可達到10-3Torr或(huo)10-6Tor。
高低溫(wen)真空探針(zhen)臺(tai)應用(yong):
可應用(yong)于低溫或(huo)高溫真(zhen)空環境(jing)下被測(ce)樣品(pin)的電學性(xing)能測(ce)試(shi)分析,如:半導體(ti)/微(wei)電子(zi),電子(zi),機(ji)電,物理,化學,材(cai)料,光(guang)電,納米,微(wei)機(ji)電/MEMS,生物芯片,航(hang)空航(hang)天(tian)等科學研究領域,以及IC設計/制造/測試(shi)/封裝、LED、LCD/OLED、LD/PD、PCB、FPC等生產(chan)制造領域。
高溫真空探針臺KT-Z1604TZ參數
真(zhen)空腔體(ti) | |
腔體材(cai)質 | 304不銹(xiu)鋼 |
上蓋開(kai)啟 | 鉸鏈側開 |
加(jia)熱臺材(cai)質 | 304不銹鋼(gang) |
內腔(qiang)體尺寸 | φ160x90mm |
觀(guan)察(cha)窗(chuang)尺寸 | Φ70mm |
加(jia)熱臺尺寸 | φ60mm |
觀察窗熱臺間(jian)距 | 75mm |
加(jia)熱臺溫度 | ﹣196~350℃ |
加熱臺(tai)溫控(kong)誤差 | ±1℃ |
真空度(du) | 機械(xie)泵≤10Pa 分子泵≤10-3Pa |
允(yun)許正壓 | ≤0.1MPa |
真(zhen)空(kong)抽(chou)氣口 | KF25真(zhen)空法蘭 |
氣體進氣口(kou) | 3mm-6mm卡(ka)套接頭 |
電(dian)信號接(jie)頭 | SMA轉BNC X 4 |
電學性能 | 絕(jue)緣(yuan)電阻 ≥4000MΩ 介質耐壓 ≤500V |
探針數(shu)量(liang) | 4探針 |
探針材質(zhi) | 鎢針 |
探針(zhen)尖 | 10μm |
探(tan)針移動平臺 | |
X軸(zhou)移(yi)動行程 | 30mm ±15mm |
X軸控制精度 | ≤0.01mm |
Y軸移動行程 | 13mm ±12.5mm |
Y軸控制精度 | ≤0.01mm |
Z軸(zhou)移動行程 | 13mm ±12.5mm |
Z軸控制精(jing)度 | ≤0.01mm |
電子顯微鏡 | |
顯微鏡類別 | 物鏡 |
物鏡倍數 | 0.7-4.5倍 |
工作間(jian)距 | 90mm |
相機 | sony 高清 |
像素 | 1920※1080像素 |
圖像(xiang)接口 | VGA |
LED可調光(guang)源 | 有(you) |
顯示屏 | 8寸(cun) |
放大倍數 | 19-135倍(bei),視場范(fan)圍15×13-2.25×1.7mm,最小可分辨0.08mm |
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