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高溫真空探針臺

簡要描述:高(gao)溫(wen)真(zhen)空(kong)探針臺KT-Z1604TZ,可單選高(gao)溫(wen)或低溫(wen)等相應組件,溫(wen)度可達到400℃。以便測量分析溫(wen)度變化時芯(xin)片性能(neng)參數(shu)的(de)變化。腔體內被測芯(xin)片在(zai)真(zhen)空(kong)環境中有效避(bi)免易受氧(yang)化半導體器件接觸空(kong)氣所帶來的(de)測試結(jie)果誤差(cha)。

  • 產品(pin)型號:KT-Z1604TZ
  • 廠商性質(zhi):生產廠家
  • 更新時間:2023-09-18
  • 訪  問  量:834
詳細介紹
品牌鄭科探

高溫真空探針臺KT-Z1604TZ

真空探針(zhen)臺可實(shi)現高(gao)真空環(huan)境下的高(gao)溫及(ji)低(di)溫電學性能(neng)測量,真空腔一體成型(xing),具有設(she)計合理,真空度穩(wen)定(ding),溫(wen)控精度及(ji)機(ji)械精度高等(deng)特點;根(gen)據測試溫(wen)度范圍不同,可單(dan)選(xuan)高溫(wen)或低溫(wen)等(deng)相(xiang)應組(zu)件,溫(wen)度可達到400,低(di)溫部分(fen)采用液(ye)氮或液(ye)氦冷(leng)卻組件,溫度可低(di)至-196℃,;真空系統可選(xuan)機械(xie)泵或分子泵系統,真空度可達到10-3Torr或(huo)10-6Tor

 

高低溫(wen)真空探針(zhen)臺(tai)應用(yong):

可應用(yong)于低溫或(huo)高溫真(zhen)空環境(jing)下被測(ce)樣品(pin)的電學性(xing)能測(ce)試(shi)分析,如:半導體(ti)/微(wei)電子(zi),電子(zi),機(ji)電,物理,化學,材(cai)料,光(guang)電,納米,微(wei)機(ji)電/MEMS,生物芯片,航(hang)空航(hang)天(tian)等科學研究領域,以及IC設計/制造/測試(shi)/封裝、LEDLCD/OLEDLD/PDPCBFPC等生產(chan)制造領域。

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高溫真空探針臺KT-Z1604TZ參數

真(zhen)空腔體(ti)

腔體材(cai)質

304不銹(xiu)鋼

上蓋開(kai)啟

鉸鏈側開

加(jia)熱臺材(cai)質

304不銹鋼(gang)

內腔(qiang)體尺寸

φ160x90mm

觀(guan)察(cha)窗(chuang)尺寸

Φ70mm

加(jia)熱臺尺寸

φ60mm

觀察窗熱臺間(jian)距

75mm

加(jia)熱臺溫度

﹣196~350

加熱臺(tai)溫控(kong)誤差

±1

真空度(du)

機械(xie)泵≤10Pa   分子泵≤10-3Pa

允(yun)許正壓

≤0.1MPa

真(zhen)空(kong)抽(chou)氣口

KF25真(zhen)空法蘭

氣體進氣口(kou)

3mm-6mm卡(ka)套接頭

電(dian)信號接(jie)頭

SMA轉BNC X 4

電學性能

絕(jue)緣(yuan)電阻 ≥4000MΩ   介質耐壓 ≤500V

探針數(shu)量(liang)

4探針

探針材質(zhi)

鎢針  

探針(zhen)尖

10μm

探(tan)針移動平臺

X軸(zhou)移(yi)動行程

30mm    ±15mm

X軸控制精度

≤0.01mm

Y軸移動行程

13mm    ±12.5mm

Y軸控制精度

≤0.01mm

Z軸(zhou)移動行程

13mm    ±12.5mm

Z軸控制精(jing)度

≤0.01mm

電子顯微鏡

顯微鏡類別

物鏡

物鏡倍數

0.7-4.5

工作間(jian)距

90mm

相機

sony 高清

像素

1920※1080像素

圖像(xiang)接口

VGA

LED可調光(guang)源

有(you)

顯示屏

8寸(cun)

放大倍數

19-135倍(bei),視場范(fan)圍15×13-2.25×1.7mm,最小可分辨0.08mm





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