真空探針臺KT-Z160TZ主要應用于(yu)半(ban)導體(ti)行業、光電行業、集成電路以(yi)及封裝的測試(shi)。探(tan)針臺從(cong)操作上來(lai)區分有(you)：手動，半(ban)自動，全自動從(cong)功能上來(lai)區分有(you)：溫控探(tan)針臺，真空(kong)探(tan)  針臺(低(di)溫探針臺)，RF探(tan)針臺，LCD平板(ban)探(tan)(tan)(tan)針(zhen)臺，霍爾(er)效應(ying)探(tan)(tan)(tan)針(zhen)臺，表面電(dian)阻(zu)率探(tan)(tan)(tan)針(zhen)臺。普遍應(ying)用于復雜、高速器(qi)件(jian)的精(jing)密電(dian)氣(qi)測量(liang)的研發，旨在(zai)確保質量(liang)及可(ke)靠性，并縮減研發時間(jian)和器(qi)件(jian)制造工藝(yi)的成本。自動探(tan)(tan)(tan)針(zhen)測試(shi)臺在(zai)功能及組成上大同小異，即(ji)主要由x-y向工作臺，可(ke)編程承片臺、探卡/探卡支架、打點器、探邊器、操作手柄等組成

高低(di)溫真(zhen)空 探針臺應用(yong)：

可應用于低(di)溫或高溫真空環境下被(bei)測樣(yang)品的電學(xue)性(xing)能(neng)測試分析，如：半導體/微電(dian)子，電(dian)子，機電(dian)，物理，化學(xue)，材料，光電(dian)，納(na)米，微機電(dian)/MEMS，生物芯(xin)片，航(hang)空航(hang)天等科學(xue)研究領域，以(yi)及IC設計/制造/測(ce)試/封裝、LED、LCD/OLED、LD/PD、PCB、FPC等(deng)生產(chan)制(zhi)造領域。

· 結構(gou)緊(jin)湊，適用(yong)于各種變(bian)溫測試
· -196℃~400℃（配液氮致冷模塊）
· 氣密腔室設計，可通(tong)保護(hu)氣氛
· 4探針，手動定位（可擴展為6個）

· 支(zhi)持改(gai)動或定(ding)制

真空探針臺KT-Z160TZ參數