KT-Z1604T探針(zhen)臺主要應用于(yu)傳(chuan)感(gan)器(qi)，半導體，光電(dian)(dian)，集成電(dian)(dian)路以及(ji)封(feng)裝的(de)(de)(de)測試。 廣泛(fan)應用于(yu)復雜、高(gao)速(su)器(qi)件(jian)的(de)(de)(de)精密電(dian)(dian)氣測量的(de)(de)(de)研發，旨在確保質量及(ji)可靠性，并縮(suo)減研發時間和器(qi)件(jian)制造工藝的(de)(de)(de)成本(ben)。
    該探針臺(tai)(tai)的承載臺(tai)(tai)為(wei)60x60不銹(xiu)鋼(gang)臺(tai)(tai)面(mian)，臺(tai)(tai)面(mian)最高(gao)可升溫到最高(gao)350℃。真(zhen)空(kong)腔體設計有進氣口和抽真(zhen)空(kong)接(jie)口。探針臂(bei)為(wei)X/Y/Z三軸移動，三個(ge)方(fang)向(xiang)(xiang)均可在真(zhen)空(kong)環境下精密(mi)移位調(diao)節，其中X方(fang)向(xiang)(xiang)調(diao)節范(fan)圍：0－30mm；y方(fang)向(xiang)(xiang)調(diao)節范(fan)圍：0－20mm；z方(fang)向(xiang)(xiang)調(diao)節范(fan)圍：0－20mm；用(yong)戶可根據需(xu)(xu)要(yao)自行(xing)調(diao)節。使(shi)用(yong)時(shi)將需(xu)(xu)檢測的器件(jian)固定在加熱臺(tai)(tai)上(shang)，再微(wei)調(diao)探針支架X/Y/Z 方(fang)向(xiang)(xiang)行(xing)程，通(tong)過顯微(wei)鏡觀察，使(shi)探針對準檢測點(dian)后，即可進行(xing)檢測