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銅靶材鍍膜濺射儀

簡要(yao)描(miao)述(shu):以(yi)銅(tong) (Cu) 濺射(she)靶材為(wei)例.在制備銅(tong)濺射(she)靶時,不可(ke)避免地會引入硫(liu)、鉛等(deng)其他雜質(zhi)含量.微(wei)量的硫(liu)可(ke)以(yi)防止熱(re)加工時晶粒(li)尺寸增大或(huo)產生微(wei)裂紋;但當硫(liu)元(yuan)素含量高于18 ppm時,會出現(xian)微(wei)裂紋;隨著兩種雜質(zhi)元(yuan)素(硫(liu)和鉛),銅(tong)靶材鍍膜濺射(she)儀KT-Z1650PVD為(wei)臺式磁(ci)控(kong)濺射(she)鍍膜機,儀器結構緊湊,全自動控(kong)制,設計符(fu)合(he)人體工程學(xue),所得結果一致(zhi),可(ke)重復性(xing)高。

  • 產品型(xing)號:KT-Z1650PVD
  • 廠商性(xing)質:生產廠家
  • 更新時(shi)間:2023-12-26
  • 訪(fang)  問  量:839
詳細介紹
品牌鄭科探濺射氣體根據需求氣體
樣品臺尺寸φ50mm控制方式觸摸屏智能控制
樣品倉尺寸φ160x160mm靶材尺寸50mm
靶材材質金 鉑 銅 銀價格區間1-5萬
產地類別國產應用領域化工,電子

      銅靶材(cai)Cu target 鄭科探小型(xing)磁(ci)控濺射(she)靶材鍍膜銅(tong)膜料顆(ke)粒銅(tong)

以銅 (Cu) 濺射靶材(cai)為例.在制(zhi)備銅濺射靶時,不(bu)可避(bi)免(mian)地會引(yin)入硫、鉛等(deng)其他雜質含量(liang).微量的硫可以防止熱加工時晶粒尺寸增(zeng)大(da)或產生微裂紋;但當硫(liu)元(yuan)素含量高于18 ppm,會出現微裂紋;隨著兩種(zhong)雜(za)質元素(硫和鉛)含量的(de)增(zeng)加,靶材裂紋的(de)數量和電弧放電的(de)數量會增(zeng)加(jia).因此,應盡可能降低靶材中的雜質含(han)量,以提高薄膜的均勻性。

銅靶材.jpeg高純度銅靶材

銅靶材鍍膜濺射儀

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應用領域(yu):

離子濺射儀在掃描電(dian)(dian)鏡中應用(yong)十(shi)分廣泛,通過向樣品表面噴鍍金、鉑、鈀(ba)及混合(he)靶材(cai)等金屬消除不(bu)導電(dian)(dian)樣品的(de)荷電(dian)(dian)現象,并提高(gao)觀測效率,另外可以使用(yong)噴碳附(fu)件(jian)對(dui)樣品進行蒸碳,實現不(bu)導電(dian)(dian)樣品的(de)能譜儀元素定性和半定量分析。

銅靶材鍍膜濺射儀KT-Z1650PVD廠家供應技術參數;

控制方式

7寸(cun)人機界面 手動(dong) 自動(dong)模(mo)式切換控制

濺射(she)電源

直流濺射電源

鍍膜功能

0-999秒5段可(ke)變(bian)換功(gong)率及擋板位和(he)樣(yang)品速度程序

功率

≤1000W

輸出電壓電流

電壓≤1000V  電流≤1A

真空

機械泵 ≤5Pa(5分(fen)鐘)   分(fen)子(zi)泵≤5*10^-3Pa

濺射真空

≤30Pa

擋板類型

電控

真空腔(qiang)室(shi)

石英+不銹鋼腔體φ160mm x 170mm

樣(yang)品(pin)臺

可(ke)旋轉φ62  (可(ke)安裝φ50基(ji)底(di))

樣(yang)品臺轉速

8轉/分鐘

樣(yang)品濺射源調節距離(li)

40-105mm

真空測量

皮拉(la)尼真空(kong)計(已安裝 測量范圍10E5Pa  1E-1Pa)

預留真空接口

KF25抽(chou)氣(qi)(qi)口(kou)    KF16放氣(qi)(qi)口(kou)   6mm卡(ka)套(tao)進氣(qi)(qi)口(kou)





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