鍍金鎢針真空探針臺 高溫真空熱臺主要應(ying)用(yong)于半導體行(xing)業、光(guang)電行(xing)業、集成電路以及封裝(zhuang)的測試。廣泛應(ying)用(yong)于復雜、高速(su)器件(jian)(jian)的精密電氣測量的研(yan)發(fa)，旨在確(que)保質量及可(ke)靠性，并縮減研(yan)發(fa)時間(jian)和器件(jian)(jian)制造工藝的成本

    鍍金鎢針真空探針臺 高溫真空熱臺主要用(yong)于氣體(ti)敏感材料或其他對環境敏感性材料中(zhong)的(de)電信(xin)號(hao)測試(shi)。測試(shi)腔(qiang)體(ti)內部裝(zhuang)有不銹鋼(gang)加熱承載臺，臺面為(wei)φ30，臺面可升溫到400℃。臺面四周(zhou)裝(zhuang)有微型3軸(zhou)可移(yi)動鎢鋼(gang)探針，特別適合微小未(wei)封裝(zhuang)的(de)叉指(zhi)電極等傳感器測試(shi)。

    該腔(qiang)體(ti)設(she)計有進氣(qi)口和抽真(zhen)空(kong)接口其真(zhen)空(kong)度用機械(xie)泵可達＜5Pa分子泵可達＜-3Pa。真(zhen)空(kong)信(xin)號(hao)連接處(chu)使用高(gao)級(ji)真(zhen)空(kong)電(dian)(dian)極信(xin)號(hao)接頭，保證氣(qi)密(mi)性及抗(kang)干(gan)擾(rao)性能。使用時將需將待檢測(ce)的器(qi)件(jian)方(fang)在加熱(re)臺面，探針尖處(chu)由3軸可移動探針手動調節移動至(zhi)被測(ce)試器(qi)件(jian)的引腳處(chu)，外(wai)部信(xin)號(hao)線連接測(ce)試儀(yi)器(qi)來測(ce)試電(dian)(dian)學(xue)信(xin)號(hao)。

         KT-Z1604T探(tan)針臺主要應(ying)用于傳(chuan)感器(qi)(qi)，半(ban)導體，光電(dian)，集成電(dian)路以及封裝的測試。 廣泛應(ying)用于復(fu)雜、高(gao)速器(qi)(qi)件的精密電(dian)氣(qi)測量的研發，旨(zhi)在確保質量及可靠性(xing)，并縮減研發時間(jian)和(he)器(qi)(qi)件制造工藝的成本。

        該探針臺的承載臺為60x60不銹鋼(gang)臺面，臺面可(ke)升溫到350℃。真(zhen)(zhen)空腔體設(she)計有進氣(qi)口(kou)和抽真(zhen)(zhen)空接口(kou)。探針臂為X/Y/Z三軸移動(dong)，三個方(fang)(fang)向(xiang)均(jun)可(ke)在(zai)真(zhen)(zhen)空環境下精密移位(wei)調節(jie)(jie)，其中X方(fang)(fang)向(xiang)調節(jie)(jie)范圍(wei)：0－30mm；y方(fang)(fang)向(xiang)調節(jie)(jie)范圍(wei)：0－20mm；z方(fang)(fang)向(xiang)調節(jie)(jie)范圍(wei)：0－20mm；用(yong)(yong)戶可(ke)根(gen)據需(xu)要(yao)自行調節(jie)(jie)。使用(yong)(yong)時將需(xu)檢(jian)測的器件固定在(zai)加熱臺上(shang)，再微調探針支架(jia)X/Y/Z 方(fang)(fang)向(xiang)行程，通過(guo)顯微鏡觀(guan)察(cha)，使探針對(dui)準檢(jian)測點(dian)后，即可(ke)進行檢(jian)測