微(wei)型(xing)探(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)是一種可以(yi)(yi)在不同溫度下對材(cai)料進行電(dian)學性(xing)能測(ce)(ce)試(shi)的(de)(de)(de)設備,它有(you)多種類型(xing)和應用(yong),主要用(yong)于科(ke)學研究(jiu)和教育實驗(yan)。微(wei)型(xing)探(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)的(de)(de)(de)工作原理是通(tong)過(guo)探(tan)針(zhen)與樣品(pin)接觸,形(xing)(xing)成電(dian)路,然后通(tong)過(guo)電(dian)學儀表測(ce)(ce)量樣品(pin)的(de)(de)(de)電(dian)阻、電(dian)容、電(dian)流、電(dian)壓等參數,從而分析材(cai)料的(de)(de)(de)特性(xing)。微(wei)型(xing)探(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)可以(yi)(yi)測(ce)(ce)試(shi)不同尺寸和形(xing)(xing)狀的(de)(de)(de)樣品(pin),例如(ru)晶圓、芯(xin)片(pian)、封裝(zhuang)器(qi)件、光電(dian)器(qi)件、材(cai)料片(pian)等。微(wei)型(xing)探(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)是一種高(gao)精度、高(gao)效率(lv)、高(gao)靈活性(xing)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)設備,對于推動材(cai)料科(ke)學和半導體技術的(de)(de)(de)發展有(you)重要作用(yong)。
優點(dian):
體積小,便于搬(ban)運和安裝。
精(jing)(jing)度高,能夠對微米級(ji)的樣品(pin)進行精(jing)(jing)確的測(ce)試。
操作(zuo)方便,只需通(tong)過探針(zhen)與樣(yang)品接觸(chu),即可進行電學性能測試(shi)。
靈(ling)活性高,能(neng)夠適應不同的測(ce)(ce)試(shi)環境和測(ce)(ce)試(shi)需(xu)求,例如高低(di)溫、高頻、光電等。
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